xrf熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司新開(kāi)發(fā)的具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿(mǎn)足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復雜材料的光譜化學(xué)成分分析需要。以其的分析速度，媲美實(shí)驗室級的分析精度和便于操作的特點(diǎn)為同類(lèi)型手持式光譜分析儀設立了新的標準。

新一代SPECTRO xrf熒光光譜儀在繼承既有的高性?xún)r(jià)比，高效能優(yōu)點(diǎn)基礎上，更針對客戶(hù)精確定位分析的需要增加了可視化CCD攝像頭以滿(mǎn)足小焦點(diǎn)精確定位分析的要求，測試點(diǎn)的影像可以和分析結果一起保存在系統內存中，一體化集成GPS定位可以將測試點(diǎn)經(jīng)緯度坐標信息同測試結果一起保存，便于回溯，大的提升了工作效率。

① 可在大氣中現場(chǎng)快速無(wú)損的（2秒顯示牌號和實(shí)驗室級的分析結果/額外增加10秒可分析Mg，Al，Si，P，S）分析檢測并鑒別出各種不銹鋼，低合金鋼，有色合金，金屬等材質(zhì)中的常量和微量元素含量，檢出限可達幾個(gè)ppm，并可根據用戶(hù)應用需要進(jìn)行擴展，以滿(mǎn)足粉末，礦石，土壤等不同樣品更多的分析測試要求，測量元素可達47種。

② 設備體積小，重量輕，分析精度高，中英文操作系統、集一體化程度高，可靠性佳，集多種應用于一體，特別適用于高精度材料成分快速檢測。

③ 配有Peltier電制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）計數器, 數據處理能力10倍于PIN二*管檢測器，可有效防止計數溢出造成的漏計。SDD技術(shù)顯著(zhù)減少分析所占用的X射線(xiàn)開(kāi)啟時(shí)間，在同樣的儀器使用條件下可以測試更多的樣品，有效提升工作效率。

④ 采用復合濾光片 (多金屬復合材料) 設計, 顯著(zhù)減少了由于更換濾波片造成的分析時(shí)間的浪費（*高縮短5倍時(shí)間），采用不同的激發(fā)條件保證對元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激發(fā)效果，減少了操作時(shí)間，大幅度降低X射線(xiàn)對操作人員造成傷害的可能性, 是真正意義上的安全的快速無(wú)損現場(chǎng)檢測設備。

⑤ 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可對任何*未知的樣品進(jìn)行‘解剖’分析。與其他同類(lèi)儀器相比，FP更為接近(符合)實(shí)際，在此程序中采用了數千種標準樣品，實(shí)測結果并予以固化。

⑥ 采用人機功效學(xué)原理，一體化的工業(yè)級電腦可以完成諸如：儀器控制，測試操作，自動(dòng)識別，背底扣減，譜峰重疊，堆砌峰 / 逃逸峰校正，定量計算等操作功能。儀器采用分級密碼，重要的數據得到保護。標準USB接口更方便數據傳出。

⑦ 具備Interlock安全互鎖和硬體快門(mén)。如未檢測到測試樣品，快門(mén)互鎖裝置會(huì )于200毫秒內自動(dòng)關(guān)閉快門(mén)并同時(shí)切斷X射線(xiàn)，連鎖保護功能大程度保護操作人員的人身安全；快門(mén)即為目前所有品牌中內置的ICAL自校準樣品，自動(dòng)校準儀器，自動(dòng)修正偏差，無(wú)需外置自校準標樣，保證分析結果的準確性。

⑧ 儀器在Windows CE操作系統上建立斯派克的分析軟件，操作方便。采用人機功效學(xué)原理，譜圖匯編，自動(dòng)識別，背底扣減，譜峰重疊，堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能強大。儀器采用分級密碼，重要的數據得到保護。

⑨ 儀器具有多種校正模式(數學(xué)模型)(方法)，在定量分析中可充分應用，以取得分析結果。方法包括: 基本參數法、盧卡斯經(jīng)驗系數法、質(zhì)量吸收系數法、基體匹配校正等等。

⑩ 可視CCD攝像頭定位系統，可實(shí)時(shí)記錄所測樣品的位置的圖像并和測試數據一同保存。

檢測器

● SDD 硅漂移半導體檢測器

   Mn-K?能量分辨率：半峰寬<160eV

   輸入計數率*大至250kcps

激發(fā)源

X射線(xiàn)管

   ●  銠靶

   ●  *大50kV

    ●  *大125微安

快門(mén)安全連鎖機構

打開(kāi)快門(mén)前，自動(dòng)檢測是否有X射線(xiàn)泄漏，如未檢測到樣品，快門(mén)將于200毫秒的時(shí)間內自動(dòng)關(guān)閉，關(guān)閉快門(mén)的同時(shí)儀器自動(dòng)切斷X射線(xiàn)。

自動(dòng)快門(mén)

具有硬體快門(mén)，快門(mén)關(guān)閉狀態(tài)下將射線(xiàn)源與外界物理上進(jìn)行隔離.

尺寸和重量

-高: 270 mm (10.7“)

-寬:  93 mm (3.7“)

-深: 230 mm (9.1“)

-重量：儀器1.264公斤，包括電池：380克

電源

- 可充電鋰聚合物電池操作

- >4小時(shí)連續工作

- 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz（變壓器/充電器）

- 分析時(shí)11W

- 待機時(shí)6W

操作

激發(fā)扳機在*一次結果顯示后即可松開(kāi)。始終按住激發(fā)扳機直至檢測結束。（分析時(shí)間2秒或12秒）

Spectrometer control 光譜儀控制

- 一體化電腦

- Windows Mobile 操作系統

- USB卡槽

- Wireless LAN, USB 藍牙，無(wú)線(xiàn)局域網(wǎng)，

Software 軟件

- ICAL 標準化

- 數據管理：以存儲數據后處理

分析模式

-可選擇不同的結果顯示方式

-自動(dòng)平均值計算

-計算標準偏差和相對標準偏差

牌號鑒別

-基于以存儲的牌號庫的牌號鑒別

-基于選定的牌號進(jìn)行牌號確認

-可選擇同時(shí)或分別顯示分析結果和牌號名稱(chēng)

-牌號庫可方便地修改或擴展

材料分選

-基于參考樣品的材料分選：是/不是

-可設定對稱(chēng)或非對稱(chēng)的公差

-三種操作模式可選

-輸出報告

附件（隨機提供）

- 便攜箱

-儀器/電池背包

-2塊電池

-充電器/變壓器

- 消耗品

文件

- 操作手冊

- U盤(pán)

分析程序：

1、Standard”標準分析程序：Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, In, Sn,

     Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Ta, W, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U

2、輕金屬分析程序： Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, 

     In, Sn, Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Ta, W, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U

3、鍍銀層分析程序